【專利解密】通銳微電子顯示裝置校正方案 解決OLED“燒屏”問題

【嘉勤點評】通銳微電子發明的顯示裝置的校正方案，利用四個晶體管進行數據電壓的處理，并對顯示裝置中的電流值進行監測，從而降低了顯示裝置中的通常動作和特性檢測動作的電流誤差，提高了顯示裝置的外部補償精度。

有源矩陣方式的有機發光顯示裝置(OLED)具有響應速度快、發光效率、亮度以及視角大的優點，相關企業以及研發人員也投入了大量的精力進行研發。

有機發光顯示裝置一般將“用于控制流到OLED驅動電流的驅動晶體管”以及“由OLED構成的像素電路”按照矩陣的形狀進行排列，并根據視頻信號調整像素的亮度，以顯示圖像信息，像素的亮度通過利用驅動晶體管的柵極電壓控制驅動電流來調整。

但是，OLED由于經時劣化或者局部長時間高亮度顯示等而劣化(出現殘影)，局部亮度會下降，也就是我們常聽到的詞“燒屏”，這就成為了與周圍像素產生顯著亮度差的原因，將導致圖像在顯示中產生亮度不均的問題，因此需要對顯示裝置進行校正。

為此，通銳微電子在2021年2月9日申請了一項名為“顯示裝置”的發明專利（申請號：202110180070.X），申請人為深圳通銳微電子技術有限公司。

根據該專利中發明的相關資料，讓我們一起來看看這項發明專利吧。

如上圖，為該專利中發明的顯示裝置的構成電路圖，該顯示裝置10包含像素電路20、具有監視電路的功能的輸出電路30以及控制部50。像素電路由發光元件、存儲電容器Cst(電容元件)、第1晶體管T1、第2晶體管(驅動晶體管)T2、第3晶體管T3(監視控制晶體管)、以及第4晶體管(發光控制晶體管)構成。

第1晶體管～第4晶體管為N型，在像素電路中，第1、第2、第3和第4晶體管的柵極端子分別連接到掃描信號線Gi、數據信號線Sj、監視控制線Mi以及發光控制線Ei。數據信號線Sj兼作監視線，第2晶體管的源極端子經由第3晶體管連接到數據信號線Sj，并且經由第4晶體管連接到OLED的陽極。

輸出電路包含DA轉換器321、選擇器322、運算放大器331、監視電容器332、AD轉換器324以及開關333、334、335。運算放大器的反相輸入端子經由開關334連接到數據信號線Sj，非反相輸入端子連接到DA轉換器，輸出端子連接到選擇器的輸入端子，開關333和監視電容器并聯配置于運算放大器的反相輸入端子與輸出端子之間。

控制部則包含校正數據運算部201、存儲器202、視頻數據校正部203、基準信號生成部204、電壓運算部205以及選擇器206。

上圖為基于顯示裝置硬件環境的校正工序執行流程圖，首先，將與從基準信號生成部204發送來的基準信號DAT2對應的基準電壓Vs1施加到第2晶體管的源極端子，進行第1次對OLED特性的檢測，該步驟在下圖所示的期間To1～To4進行。

其中，期間To1用于OLED特性檢測以及向存儲電容器Cst進行寫入；在期間To2，用于完成OLED特性檢測，并可為數據信號線Sj進行充電；在期間To3中可以檢測OLED的特性并完成對流到OLED電流的積分；在期間To4則完成OLED特性檢測的AD轉換。

接著，系統利用電壓運算部算出為了使與在上一步驟中檢測出的同值電流，流到第2晶體管所需要的監視用的數據電壓Vx1，并將第2晶體管的柵極端子設定為數據電壓Vx1，進行第1次對第2晶體管特性的檢測。

隨后，將與從基準信號生成部發送來的基準信號DAT2對應的基準電壓Vs2施加到OLED的陽極端子，并進行第2次對OLED特性的檢測。同樣，繼續計算出同值電流流到第2晶體管所需要的監視用的數據電壓Vx2，將第2晶體管的柵極端子設定為數據電壓Vx2，并進行第2次對第2晶體管特性的檢測。

最后，由校正數據運算部基于表示OLED特性和第2晶體管特性的數字信號算出本次的校正數據，并將存儲器的校正數據進行更新。

以上就是通銳微電子發明的顯示裝置的校正方案，該方案利用四個晶體管進行數據電壓的處理，并對顯示裝置中的電流值進行監測，從而降低了顯示裝置中的通常動作和特性檢測動作的電流誤差，并提高了顯示裝置的外部補償精度。

（holly）

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